參考價(jià)格
500萬(wàn)以上型號(hào)
TESCAN S8000G品牌
產(chǎn)地
歐洲樣本
暫無(wú)分辨率：
2.0nm@30kV(低真空模式)看了TESCAN S8000G鎵離子型雙束掃描電鏡的用戶又看了
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| 二次電子圖象分辨率 | 0.9nm@15kV | 放大倍數(shù) | 1-2,000,000x |
| 電子光學(xué) | BrightBeam? 電子光學(xué)鏡筒 | 樣品臺(tái) | 超大樣品臺(tái)選配 |
| 探測(cè)器 | 多探測(cè)器系統(tǒng) | 背散射電子圖像分辨率 | 2.0nm@30kV(低真空模式) |
| 加速電壓 | 50V-30kV |
| 產(chǎn)地屬性 | 歐洲 | 儀器種類 | 場(chǎng)發(fā)射 |
| 價(jià)格范圍 | 500萬(wàn)-700萬(wàn) |
S8000G是TESCAN**S8000系列掃描電鏡的**個(gè)新成員，是一款超高分辨雙束FIB-SEM系統(tǒng)，它可以提供****的圖像質(zhì)量，具有強(qiáng)大的擴(kuò)展分析能力，并能以**的精度、效率完成復(fù)雜的納米加工和操作，可滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和學(xué)術(shù)界研究的所有需求。
新一代鏡筒內(nèi)電子加速、減速技術(shù)，保證了復(fù)雜樣品的低電壓高分辨觀測(cè)能力
**配置的靜電-電磁復(fù)合物鏡，物鏡無(wú)磁場(chǎng)外泄，實(shí)現(xiàn)磁性樣品高分辨成像及分析
配置4個(gè)新一代探測(cè)器，可實(shí)現(xiàn)9種圖像觀測(cè)，對(duì)樣品信息的采集更加全面
配置大型樣品室，有超過(guò)20個(gè)擴(kuò)展接口，為原位觀測(cè)、分析創(chuàng)造了良好的工作環(huán)境
可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴(kuò)展分析附件，并**實(shí)現(xiàn)與TOF-SIMS、Raman聯(lián)用
新一代操作軟件和自動(dòng)功能，F(xiàn)IB鏡筒具有全自動(dòng)的離子鏡筒對(duì)中，極大簡(jiǎn)化了操作
新一代 Orage? Ga FIB鏡筒，適用于各類具有挑戰(zhàn)性的納米加工任務(wù)
TESCAN
S8000配置了**的BrightBeam?鏡筒，實(shí)現(xiàn)了無(wú)磁場(chǎng)超高分辨成像，可以**化的實(shí)現(xiàn)各種分析，包括磁性樣品的分析。新型鏡筒中的電子光路設(shè)計(jì)增強(qiáng)了低能量電子成像分辨率，特別適合對(duì)電子束敏感樣品和不導(dǎo)電樣品的分析。創(chuàng)新的Orage?
Ga FIB鏡筒配有***的離子槍和離子光學(xué)鏡筒，使得TESCAN S8000G成為了世界**的樣品制備和納米圖形成型的儀器。
S8000G束流可達(dá)100nA，具有超快速的加工能力，新穎的SmartMill高速切割功能，使得加工效率提升一倍。
S8000G離子能量*低可達(dá)500eV，擁有更優(yōu)秀的低壓樣品制備能力，可以快速制備無(wú)損超薄TEM樣品。
可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴(kuò)展分析附件，并**實(shí)現(xiàn)與TOF-SIMS、Raman一體化。
新一代OptiGIS?氣體注入系統(tǒng)
S8000可配置**的多種探測(cè)器，包括透鏡內(nèi)Axial detector 以及
Multidetector，可選擇不同角度和不同能量來(lái)收集信號(hào)，體現(xiàn)更多種類的信息，同時(shí)獲得更好的表面靈敏度和對(duì)比度。S8000G有兩種氣體注入系統(tǒng)可供選擇，標(biāo)準(zhǔn)的5針-GIS和新一代OptiGIS單針-GIS，單針的OptiGIS支持通過(guò)更換氣罐來(lái)更換化學(xué)氣體，避免了以往多針氣體注入系統(tǒng)樣品倉(cāng)內(nèi)占用空間大的問題。
兩種氣體注入系統(tǒng)均可以選擇多種沉積氣體，其中W、Pt、C等用于導(dǎo)電材料沉積，SiOx用于絕緣材料沉積，XeF2、H2O等用于增強(qiáng)刻蝕，或其它定制氣體。
新一代Essence?操作軟件，更簡(jiǎn)單、高效的操作平臺(tái)
S8000可配置**的多種探測(cè)器新操作軟件極大簡(jiǎn)化了用戶界面，能快速訪問各主要功能，減少了繁瑣的下單菜單操作，并優(yōu)化了操作流程向?qū)?，易于學(xué)習(xí)，兼容多用戶需求，可根據(jù)工作需要定制操作界面。
新穎的樣品艙內(nèi)3D空間位置和移動(dòng)軌跡模擬功能，可避免誤操作，造成碰撞。
樣品艙內(nèi)的3D空間位置和移動(dòng)軌跡模擬
集成多項(xiàng)創(chuàng)新性設(shè)計(jì)，拓展新應(yīng)用領(lǐng)域的利器
S8000可配置**的多種探測(cè)器S8000G是TESCAN新一代FIB-SEM的**成員，集成了BrightBeam?
SEM鏡筒、Orage?
GaFIB鏡筒、OptiGIS氣體注入系統(tǒng)等多項(xiàng)創(chuàng)新設(shè)計(jì)，在高分辨能力、原位應(yīng)用擴(kuò)展能力和分析擴(kuò)展能力方面達(dá)到了業(yè)內(nèi)**水平，此外新一代操作流程和軟件也給使用者帶來(lái)更舒適、高效的體驗(yàn)。
暫無(wú)數(shù)據(jù)！
TESCAN S8000G鎵離子型雙束掃描電鏡的工作原理介紹？TESCAN S8000G鎵離子型雙束掃描電鏡的使用方法？TESCAN S8000G鎵離子型雙束掃描電鏡多少錢一臺(tái)？TESCAN S8000G鎵離子型雙束掃描電鏡使用的注意事項(xiàng)TESCAN S8000G鎵離子型雙束掃描電鏡的說(shuō)明書有嗎？TESCAN S8000G鎵離子型雙束掃描電鏡的操作規(guī)程有嗎？TESCAN S8000G鎵離子型雙束掃描電鏡的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？TESCAN S8000G鎵離子型雙束掃描電鏡有現(xiàn)貨嗎？TESCAN S8000G鎵離子型雙束掃描電鏡包安裝嗎？
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