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鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200品牌
金埃譜產(chǎn)地
北京樣本
暫無探測器：
-加速電壓：
-電子槍：
-電子光學(xué)放大：
-光學(xué)放大：
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SEM3200是一款高性能、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。
大景深，成像富有立體感。豐富的擴(kuò)展性，助您在顯微成像的世界中盡情探索。
碳材料樣品，低電壓下，穿透深度較小，可以獲取樣品表面真實(shí)形貌，細(xì)節(jié)更豐富。 毛發(fā)樣品，在低電壓下，電子束輻照損傷減小，同時消除了荷電效應(yīng)。 過濾纖維管材料，導(dǎo)電性差，在高真空下荷電明顯，在低真空下，無需鍍膜即可實(shí)現(xiàn)對不導(dǎo)電樣品的直接觀察。 生物樣品，采用大視場觀察，能夠輕松獲得瓢蟲整體形貌及頭部結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)，展現(xiàn)跨尺度分析。 想看哪里點(diǎn)哪里，導(dǎo)航更輕松 可通過雙擊移動、鼠標(biāo)中鍵拖動、框選放大，進(jìn)行快捷導(dǎo)航 采取多維度的防碰撞方案： 直觀反映整個視野的像散程度，通過鼠標(biāo)點(diǎn)擊清晰處，可快速調(diào)節(jié)像散至**。 一鍵聚焦，快速成像。 一鍵消像散，提高工作效率。 一鍵自動亮度對比度，調(diào)出灰度合適圖像。 SEM3200軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像?？赏瑫r觀察到樣品的形貌信息和 拖動一條線，圖像立刻“擺正角度”。 掃描電子顯微鏡不僅局限于表面形貌的觀察，更可以進(jìn)行樣品表面的微區(qū)成分分析。 背散射電子成像模式下，荷電效應(yīng)明顯減弱，并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。 鍍層樣品： 鎢鋼合金樣品： 探測器設(shè)計精巧，靈敏度高，采用4分割設(shè)計，無需傾斜樣品，可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。 四個單通道的陰影像 成分像 LED小燈珠能譜面分析結(jié)果。 鎢燈絲電鏡束流大，完全滿足高分辨EBSD的測試需求，能夠?qū)饘佟⑻沾?、礦物等多晶材料進(jìn)行晶體取向標(biāo)定以及晶粒度大小等分析。低電壓
低真空
大視場
導(dǎo)航&防碰撞
光學(xué)導(dǎo)航
標(biāo)配倉內(nèi)攝像頭，可拍攝高清樣品臺照片，快速定位樣品。
手勢快捷導(dǎo)航
如框選放大：在低倍導(dǎo)航下，獲得樣品的大視野情況，可快速框選您感興趣的樣品區(qū)域，提高工作效率。
防碰撞技術(shù)
1. 手動輸入樣品高度，精準(zhǔn)控制樣品與物鏡下端距離，防止發(fā)生碰撞；
2. 基于圖像識別和動態(tài)捕捉技術(shù)，運(yùn)動過程中對倉內(nèi)的畫面進(jìn)行實(shí)時監(jiān)測；
3. 硬件防碰撞，可在碰撞一瞬間停止電機(jī)，減少碰撞損傷。(*SEM3200A需選配此功能）
特色功能
智能輔助消像散
自動聚焦
自動消像散
自動亮度對比度
多種信息同時成像
成分信息。
快速圖像旋轉(zhuǎn)
豐富拓展性
SEM3200接口豐富，除支持常規(guī)的二次電子探測器（ETD）、背散射電子探測器（BSED）、X射線能譜儀（EDS）外，也預(yù)留了諸多接口，如電子背散射衍射（EBSD）、陰極射線（CL）等探測器都可以在SEM3200上進(jìn)行集成。背散射電子探測器
二次電子成像和背散射電子成像對比
四分割背散射電子探測器——多通道成像
能譜
電子背散射衍射
該圖為Ni金屬標(biāo)樣的EBSD反極圖，能夠識別晶粒大小和取向，判斷晶界和孿晶，對材料組織結(jié)構(gòu)進(jìn)行精確判斷。
暫無數(shù)據(jù)！
摘要：硬脂酸鎂是制藥界廣泛應(yīng)用的藥物輔料，因?yàn)榫哂辛己玫目拐承?、增流性和潤滑性在制劑生產(chǎn)中具有十分重要的作用，作為常用的藥用輔料潤滑劑，比表面積對硬脂酸鎂有很大的影響，硬脂酸鎂的比表面積越大，其極性越
2022-07-05
陶瓷材料具有高熔點(diǎn)、高硬度、高耐磨性、耐氧化等一系列特點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用于電子工業(yè)、汽車工業(yè)、紡織、化工、航空航天等國民經(jīng)濟(jì)的各個領(lǐng)域。陶瓷材料的物理性能很大程度上取決于其微觀結(jié)構(gòu)，是掃描電鏡重要的應(yīng)用領(lǐng)
2022-09-27
助力“土壤三普” | 氣體吸附技術(shù)在土壤膠體表征中的應(yīng)用 有關(guān)吸附等溫線中的滯后環(huán) 有關(guān)分子篩結(jié)構(gòu) 淺析BET BJH孔徑分布計算模型 有關(guān)BET測試中的常見問題（三） 有關(guān)BET測試中的常見問題（二） 有關(guān)BET測試中的常見問題（一） 動、靜態(tài)吸附法比較 淺析吸附方式中的t-plot 
“儲氫已經(jīng)成為一種戰(zhàn)略產(chǎn)業(yè)，在未來，對我們國家的發(fā)展是至關(guān)重要?！薄獓益V合金材料工程技術(shù)研究中心副主任 重慶新型儲能材料與裝備研究院固態(tài)儲氫研發(fā)中心負(fù)責(zé)人 陳玉安4月，美麗的山
國儀量子電鏡在芯片金屬柵極刻蝕殘留檢測的應(yīng)用報告一、背景介紹 在芯片制造工藝中，金屬柵極刻蝕是構(gòu)建晶體管關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的重要環(huán)節(jié)。精確的刻蝕工藝能夠確保金屬柵極的尺寸精度和形狀完整性，對芯片的性能
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鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200的工作原理介紹？鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200的使用方法？鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200多少錢一臺？鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200使用的注意事項(xiàng)鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200的說明書有嗎？鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200的操作規(guī)程有嗎？鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200的報價含票含運(yùn)費(fèi)嗎？鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200有現(xiàn)貨嗎？鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200包安裝嗎？
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