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是二維表面粗糙度測量儀、三維表面粗糙度測量儀和輪廓形狀測量儀**水平的組合，一體化的合理的測量儀器狀解析記錄模式三種功能，

技術(shù)參數(shù)：

二維粗糙度：

測量參數(shù)：Ra、Rq、Ry、Rmax、Rt、Rz、Rz5、Rz3、R3z、R3zmax、RzmaxD、RzD、Sk、Ku、Pc、HSC、PPI、Rpm、Sl、Sm、S、Rp、Rv、a、q、a、q、a、q、K、tp、BC、ADC、FFT、Rk、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2、WcA、WCM、WEA、WEM、真直度、離差、坐標(biāo)

放大倍率：豎直50 ~500，000 水平1~5000

測量范圍：豎直 600m 水平100mm

評價長度：0.25， 0.8， 2.5， 8， 25， 80mm / 任意(0.2mm以上) / C x1， x2， x3， x4， x5

自動水平調(diào)整：*小二乘法， 二點法， R曲線修正， 二次曲線修正，

輔助功能：自由畫面設(shè)計記錄， 圖表模版， 平均處理， 統(tǒng)計處理， 去除缺陷后測量， 再計算，探測器登記，留言記錄， 自動靈敏度校正， 公制/英制變換， 自動測量， 去除處理， 輪廓圖放大縮小。

三維粗糙度

分析項目：平面圖、等高線圖 / 微分濃淡圖 / 標(biāo)高表示圖

鳥瞰圖(水平， 俯角可變): 掃描圖 / 細格圖 / 等高線圖 / 微分濃淡圖

三維分析值: SRp / SRv / SRmax / SRa / SGr / SSr / SRe / SRq / SRsK / Sa / Sa / Spc / 標(biāo)高

粒子分析: 山(或谷)粒子的密度， 平均面積， 平均體積，

平均直徑圖形: FFT/ BC

測量范圍：Z 600m X 100mm Y 100mm

輔助功能：分析和數(shù)據(jù)采集同時進行 / 部分選取 / 水平調(diào)整 / 三維數(shù)據(jù)的任意方向的二維分析

傳送速度：0.05， 0.1， 0.2， 0.5， 1， 2mm/S高速移動速度5， 10mm/S以及手動

截止值：粗糙度 C 0.025， 0.08， 0.25， 0.8， 2.5， 8 mm，無截止，起伏fl 0.8， 2.5， 8， 25mm， fh 0.08， 0.25， 0.8， 2.5mm

過濾方式：高斯型， 2CR， 特殊高斯型

探測器上下移動：探測器上下移動范圍250mm， 自動下降/上升精度 0.2m/100mm以內(nèi)(使用制動時)

真直度測量精度：0.2m / 100mm

探測器：觸針: R2m金剛石， 測量力0.7mN 制動: R40(測量方向) R2m 藍寶石

輪廓形狀測量

分析項目對中 : 原點移動， 旋轉(zhuǎn)， 反轉(zhuǎn)， 移動

要素分析: 點， 線， 圓， 山， 谷， 交點， 中點， 接點 / 定標(biāo)器量: 座標(biāo)差， 距離， 交角

測量范圍：豎直50mm 水平100mm

傳送速度：0.02， 0.05， 0.1， 0.2， 0.5， 1.2 mm / S 高速移動速度2， 10mm/S 以及手動

輔助功能：自由畫面設(shè)計記錄， 圖表模版， 宏觀功能， 輪廓放大縮小， 數(shù)字式圓弧修正， 防止過載 震動器， 上下正反兩方向測量

探測器上下移動范圍： 200mm

真直度測量精度：1m / 100mm

探測器：R25m 10~30mN超硬， 追蹤角度： 上攀77度， 下移87度

尺寸/ 質(zhì)量、測量部600  395  593mm / 80Kg 計算部900  600  520mm / 30Kg

電源：AC 100V 800VA 50/60Hz

主要特點：

三維粗糙度測量

數(shù)據(jù)采集和分析同時進行

數(shù)據(jù)的采集和以前采集的數(shù)據(jù)的分析可以同時進行. 能節(jié)約測量時間.

三維粗糙的形狀記錄

能改變鳥瞰圖的視角、高低并進行記錄.對于平面圖能得到濃淡圖和等高線圖， 當(dāng)然， 可以取出感興趣的部分放大或記錄.

三維粗糙度參數(shù)

能進行面平均算術(shù)平均粗糙度SRa等各種三維粗糙度參數(shù)， ”山” ， “谷” 粒子的平均面積、平均體積等的分析.

二維粗糙度測量

參數(shù)

能對應(yīng)于ISO、JIS、DIN、ANSI、BS等國際標(biāo)準(zhǔn)和各國的新舊標(biāo)準(zhǔn)進行測量

自動測量功能

從探測器的測量到數(shù)據(jù)圖表的打印一連串的動作都能自動進行.

去除處理

可以避開測量形狀中傷痕等不適和的部分，指定計算的區(qū)域進行分析.

輪廓形狀測量

多斷面形狀分析

能對多到32個斷面的數(shù)據(jù)同時處理. 而且， 能對n次分開測量的數(shù)據(jù)合在一起進行分析.

對中調(diào)整

備有必要的充分對中的功能， 而且能進行極細微的調(diào)整.

宏觀功能

利用很強的宏觀功能，可以使同一類測量物體的測量、分析和打印變得很簡單. 操作的宏觀化是除了通常的操作外只要增加單鍵操作就可以了，使整個測量簡單化.

公差判定

對于半徑、距離、角度等的分析數(shù)據(jù)， 每次都要設(shè)定公差，并能進行對錯的判斷.

二維粗糙度、輪廓形狀測量的共同特點

數(shù)據(jù)圖表

能自由的對數(shù)據(jù)圖表進行畫面設(shè)計， 可以自由選擇畫面設(shè)計的數(shù)據(jù)， 其中， 有各種測量的數(shù)據(jù)， 名稱等原始數(shù)據(jù)， 公司標(biāo)記等圖形數(shù)據(jù)， 進行畫面設(shè)計， 作成圖表.