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主要特點(diǎn)：
PI-85 SEM PicoIndenter®是可以集成在掃描電子顯微鏡（SEM）里的一個(gè)深度控制納米力學(xué)檢測儀系統(tǒng)。通過這個(gè)系統(tǒng)能夠同時(shí)進(jìn)行量化納米力學(xué)性能檢測和SEM形貌觀察。 耦合這兩種技術(shù)能讓研究人員非常精確地定位探頭并且使用SEM圖像記錄測試中材料的整個(gè)變形過程。
行業(yè)應(yīng)用：材料、生物、化學(xué)、物理相關(guān)的政府檢測機(jī)構(gòu)、科研院所、高校和大型企業(yè)研究機(jī)構(gòu)。
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