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LuphoScan測量平臺(tái)是一款基于多波長干涉技術(shù)（MWLI®）的干涉式掃描測量系統(tǒng)。它專為旋轉(zhuǎn)對稱表面的超精密非接觸式3D形狀測量而設(shè)計(jì)，例如非球面光學(xué)透鏡。該系統(tǒng)能為高質(zhì)量的光學(xué)表面3D形狀測量提供**效益。

特征

LuphoScan平臺(tái)能夠輕松進(jìn)行非球面、球面、平面和自由曲面的測量。該儀器的主要特性包括高速測量、特殊表面的高靈活度測量（例如：拐點(diǎn)的輪廓或平坦的尖點(diǎn)），**物體直徑可達(dá)420mm。因?yàn)椴捎枚嗖ㄩL干涉技術(shù)（MWLI®）傳感器技術(shù)，因此能夠掃描各種表面類型如透明材料、金屬部件和研磨表面。

測量精度

該系統(tǒng)使用了復(fù)雜的參考傳感器以及特殊的基準(zhǔn)框架概念，能夠確保**精度的測量結(jié)果，精度可在±50nm以上。

高速測量

典型測量時(shí)間：30mm直徑球面小于2分鐘，130mm直徑球面小于5分半鐘。

主要應(yīng)用領(lǐng)域

LuphoScan測量系統(tǒng)用于測量可旋轉(zhuǎn)的對稱表面的3D拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，例如凹面球面透鏡和凸面球面透鏡。測量工作臺(tái)的設(shè)計(jì)能夠確保測量大多數(shù)的透鏡，而不受任何球形偏離、罕見頂端形狀（平頭）、傾斜或者發(fā)射點(diǎn)圖的限制。

除了標(biāo)準(zhǔn)的測量應(yīng)用外，還可以使用LuphoScan測量平臺(tái)的特殊擴(kuò)展工具LuphoSwap不同擴(kuò)展功能，來完成多種光學(xué)要素特征的測量。該工具能夠輔助測量透鏡厚度，以及楔形與偏心誤差。除此之外，額外的附加軟件類型能夠直接測量間斷的透鏡，如分段表面包括矩形部件、環(huán)形透鏡、有衍射階梯的表面和錐透鏡。

多樣化的測量平臺(tái)配置

LuphoScan測量平臺(tái)技術(shù)能夠提供三種不同大小和不同測量配置的選擇。測量平臺(tái)大小能夠決定**被測物體。**測量直徑可選：120mm、260mm和420mm。