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對于要求苛刻的應用，或者分析時間或樣品通量為關鍵的情況下，理學提供新型NEX QC+光譜儀。使用新一代硅探測器技術，增強的NEX QC+在元素峰分辨率和計數(shù)統(tǒng)計中提供顯著改善，從而為**挑戰(zhàn)性的測量提供高級校正和測量精度。
理學公司推出的新型的NEX QC+為常規(guī)的質(zhì)量管理應用程序做了特別的設計。新型NEX QC+設計了一個操作簡便且直觀的“圖標驅(qū)動”觸屏界面，此外，儀器中內(nèi)置打印機便于使用。
50kV的X射線管和Peltier冷卻半導體檢測器提供特殊的短期重復性和長期重復性。該電壓**可達50kV，與多個自動X射線管濾光片結合，提供了廣泛的應用程序的多功能性和低限制的檢測（LOD）。
選購附件包括FP法、自動樣品轉(zhuǎn)換器、旋轉(zhuǎn)樣品臺和氦氣凈化器（增強輕元素的靈敏度）。主要特點
·非破壞性分析元素11Na到92U
·適用于固體、液體、合金、粉末和薄膜樣品
·50kV 的X射線管可分析廣泛的元素范圍
·半導體檢測器可獲得優(yōu)質(zhì)數(shù)據(jù)
·現(xiàn)代智能手機樣式的“圖標驅(qū)動”用戶界面
·多個自動X射線管濾光片可增強靈敏度
·內(nèi)置熱敏打印機便于使用
·性價比高
·選購附件FP法
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