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基于Phasics**的四波橫向剪切干涉技術(shù)和焦平面非冷卻相機(jī)的SID4 LWIR工作范圍在長波紅外8-14μm，結(jié)構(gòu)緊湊，易于集成到光學(xué)平臺用于長波紅外激光束和光學(xué)元件測試。
SID4-Swir 光學(xué)器件測量激光束測試
特點(diǎn)：
由于其獨(dú)特的**技術(shù)技術(shù)，Phasics的SID4-LWIR波前傳感器具備以下特點(diǎn)：
1.高分辨率：160x108測量點(diǎn)
2.高發(fā)散光測量：無需轉(zhuǎn)接透鏡
3.消色差：8-14μm
4.緊湊：易于集成
應(yīng)用：
元器件測試：SID4 LWIR波前分析儀實時測量光學(xué)元件MTF和畸變。適用于熱成像目標(biāo)，安防，安防視覺。無色差，易于集成。
激光束測試：SID4 LWIR能用于測試光束特性（M2、Strehl比、強(qiáng)度分布，光束參數(shù)…）。也適用于遠(yuǎn)紅外光束測量如CO2激光器、紅外OPO激光源…
SID4-Lwir產(chǎn)品參數(shù)：
波長范圍 | 8-14μm |
通光孔徑 | 16 x 12 mm2 |
空間分辨率 | 100 μm |
采樣點(diǎn)（相位/強(qiáng)度） | 160 x 120 (> 19 000 points) |
相位相對靈敏度 | 75nm RMS |
相位精度 | 25nm RMS |
動態(tài)范圍 | ~ |
采樣頻率 | 24 fps |
實時分析頻率 | 10 fps (full resolution) |
數(shù)據(jù)接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 96 x 110 x 90 mm |
重量 | 850g |
暫無數(shù)據(jù)！
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