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安賽斯（中國(guó)）有限公司---國(guó)際先進(jìn)檢測(cè)設(shè)備優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商

產(chǎn)品標(biāo)簽：超聲波掃描顯微鏡，超聲掃描顯微鏡，聲掃顯微鏡，超聲C掃描系統(tǒng)

超聲波掃描顯微鏡是利用超聲波對(duì)微觀物體進(jìn)行成像的無(wú)損檢測(cè)設(shè)備。可對(duì)各種材料、元器件內(nèi)部缺陷、空洞、氣泡、分層缺陷、雜質(zhì)、裂紋進(jìn)行非破壞性檢測(cè)；還可進(jìn)行涂鍍層結(jié)合質(zhì)量，內(nèi)部焊接質(zhì)量，鍵合層缺陷等檢測(cè)、空洞率計(jì)算等。

超聲波掃描顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域：

• 半導(dǎo)體電子行業(yè)：半導(dǎo)體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等;

• 材料行業(yè)：復(fù)合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導(dǎo)材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等；

生物醫(yī)學(xué)：活體細(xì)胞動(dòng)態(tài)研究、骨骼、血管的研究等

超聲波掃描顯微鏡在失效分析中的應(yīng)用：

• 晶圓面處分層缺陷

• 錫球、晶圓、或填膠中的開(kāi)裂

• 晶圓的傾斜

• 各種可能之孔洞（晶圓接合面、錫球、填膠…等）

超聲波顯微鏡的在失效分析中的優(yōu)勢(shì)：

• 非破壞性、無(wú)損檢測(cè)材料或IC芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)

• 可分層掃描、多層掃描

• 實(shí)施、直觀的圖像及分析

• 缺陷的測(cè)量及缺陷面積和數(shù)量統(tǒng)計(jì)

• 可顯示材料內(nèi)部的三維圖像

• 對(duì)人體是沒(méi)有傷害的

• 可檢測(cè)各種缺陷（裂紋、分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞等）

更多產(chǎn)品信息，請(qǐng)登錄安賽斯（中國(guó)）有限公司官網(wǎng)獲取。

V-400E、V-700E、V-1000E單探頭超聲波掃描顯微鏡

• -該型號(hào)超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)是實(shí)驗(yàn)室、研發(fā)和工業(yè)生產(chǎn)線主流機(jī)型。

• - 掃描速度**可達(dá)：2000mm/s

• - 與其它品牌機(jī)型相比掃描效率高30%

• - *小掃描范圍：200μm×200μm

• - 射頻**帶寬：500MHz

• - 新型FCT防誤判**探頭

V-duo、V-quatrro、V-Octo多探頭超聲波掃顯微鏡

• 多探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)，同時(shí)使用2只、4只或8只換能器

• - **掃描速度：2000 mm/s

• - 與其它品牌相比掃描效率高30%

• - *小掃描范圍：200μm×200μm

• - 帶寬：550MHz

• - 新型換能器

Nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描系統(tǒng)

它是聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的**結(jié)合。

- 換能器頻率范圍：100MHz——2000MHz頻率實(shí)現(xiàn)高分辨率 - 探測(cè)深度<100nm

- 特殊平均模式使信噪比更好 - 同步光學(xué)成像和超聲波成像使樣品在結(jié)構(gòu)上、生物化學(xué)性能上和機(jī)械性能上具有關(guān)聯(lián)性。 - 光聲效應(yīng)增強(qiáng)了對(duì)比性 - **放大倍數(shù)：1000倍 - 入射光顯微鏡和倒置光學(xué)顯微鏡可調(diào)節(jié)

產(chǎn)品標(biāo)簽：超聲波掃描顯微鏡，超聲掃描顯微鏡，聲掃顯微鏡，超聲C掃描系統(tǒng)

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