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毫無爭議的**原子力顯微鏡-自動缺陷檢查和表面粗糙度測量

更高的通量，自動的缺陷檢查

對于媒介和基體領(lǐng)域的工程師而言，識別納米級缺陷是一個(gè)非常耗時(shí)的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可借助數(shù)量級實(shí)現(xiàn)自動缺陷識別、掃描和分析，從而加速缺陷檢查過程。Park NX-HDM可與眾多的光學(xué)檢查工具直接連接，這意味著自動缺點(diǎn)檢查通量大幅提高。

次埃米表面粗糙度測量

行業(yè)對于超平媒介和基體的要求越來越高，從而滿足體積不斷減小的設(shè)備需求。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著行業(yè)*低的本底噪聲和獨(dú)特的True Non-Contact™技術(shù)，Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量*精確的原子力顯微鏡。

* 應(yīng)用

- 媒介和基體自動缺陷檢查

更高的通量，自動的缺陷檢查

NX-HDM的自動缺陷檢查功能(Park ADR)可加速和改良識別、掃描和分析媒介和基體缺陷的流程。借助光學(xué)檢查工具提供的缺陷位置圖，Park ADR可自動定位這些位置并進(jìn)行成像（分兩步）：

（1）縮小掃描成像，以準(zhǔn)確定位缺陷。

（2）放大掃描成像，以獲取缺陷的細(xì)節(jié)。在真實(shí)缺陷測試中，我們可以看到相比于傳統(tǒng)的方法，該自動功能可將缺陷檢查通量提高到10倍。

自動搜尋式掃描和放大掃描

經(jīng)過優(yōu)化的掃描參數(shù)讓兩步式掃描更為快速：

（1）快速的低分辨率搜尋式掃描，以準(zhǔn)確定位缺陷。

（2）高分辨率的放大掃描，以獲取缺陷的細(xì)節(jié)。掃描尺寸和掃描速度參數(shù)可調(diào)節(jié)，從而滿足用戶需求。

缺陷坐標(biāo)圖自動傳入和映射至原子力顯微鏡

借助獨(dú)有的先進(jìn)映射算法，從自動光學(xué)檢測(APO)工具中獲取的缺陷坐標(biāo)圖可準(zhǔn)確地傳入和映射至Park NX-HDM。該技術(shù)讓全自動高通量缺陷成像成為可能。

光學(xué)檢測工具的缺陷坐標(biāo)圖

- 精確的次埃米表面粗糙度測量

次埃米表面粗糙度測量

行業(yè)對于超平媒介和基體的要求越來越高，從而滿足體積不斷減小的設(shè)備需求。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著行業(yè)*低的本底噪聲和獨(dú)特的True Non-Contact™技術(shù)，Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量*精確的原子力顯微鏡。

* 技術(shù)特點(diǎn)

全自動圖形識別

借助強(qiáng)大的高分辨率數(shù)字CCD鏡頭和圖形識別軟件，Park NX-HDM讓全自動圖形識別和對準(zhǔn)成為可能。

自動測量控制

自動化軟件讓NX-HDM的操作不費(fèi)吹灰之力。測量程序針對懸臂調(diào)諧、掃描速率、增益和點(diǎn)參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化，為您提供多位置分析。

自動化軟件會按照測量文件中預(yù)設(shè)的程序進(jìn)行樣品測量。Park的用戶友好型軟件界面讓用戶可靈活執(zhí)行全系統(tǒng)功能。創(chuàng)建新測量文件只需要10分鐘左右的時(shí)間，而修改現(xiàn)有的測量文件則需要不到5分鐘的時(shí)間。

Park NX-HDM具有：

·自動、半自動和手動模式

·各自動程序的可編輯測量方法

·測量過程實(shí)時(shí)監(jiān)測

·自動分析所獲取的測量數(shù)據(jù)

二維柔性導(dǎo)引掃描器，超大的100 μm x 100 μm掃描范圍

XY軸掃描器含有對稱的二維柔性和高強(qiáng)度壓電疊堆，可在保持平面外運(yùn)動*少的情況下，實(shí)現(xiàn)高正交運(yùn)動以及納米級樣品掃描下的高響應(yīng)度。

閉環(huán)式XY軸掃描器帶雙軸伺服系統(tǒng)

XY軸掃描器的各軸上配有兩個(gè)對稱的低噪聲位置感應(yīng)器，得以在**的掃描范圍和樣品尺寸下保持高正交掃描。雙感應(yīng)器能夠修正和補(bǔ)償單感應(yīng)器引起的非線性和非平面位置誤差。

高速Z軸掃描器，掃描范圍達(dá)15 μm

借助高強(qiáng)度壓電疊堆和柔性結(jié)構(gòu)，標(biāo)準(zhǔn)Z軸掃描器的共振頻率高達(dá)9 kHz以上（一般為10.5 kHz）且探針的Z軸移動速率不低于48 mm/秒，讓信息反饋更為準(zhǔn)確。**Z軸掃描范圍可從標(biāo)準(zhǔn)的15 μm擴(kuò)展至40μm（可選購的遠(yuǎn)距離Z軸掃描器）。

低噪聲XYZ軸位置傳感器

行業(yè)**的低噪聲Z軸探測器替代Z電壓，作為樣貌信號。此外，低噪聲XY閉環(huán)掃描可將正向掃描和反向掃描間隙降至掃描范圍的0.15%以下。

行業(yè)*低的本底噪聲

為了檢測*小的樣品特征和成像*平的表面，Park推出行業(yè)本底噪聲*低（< 0.5?）的顯微鏡。本底噪聲是在“零掃描”情況下確定的。當(dāng)懸臂與樣品表面接觸時(shí)，在如下情況下測量系統(tǒng)噪聲：

·0 nm x 0 nm掃描范圍，停在一個(gè)點(diǎn)

·0.5增益，接觸模式

·256 x 256像素

離子化系統(tǒng)

離子化系統(tǒng)可有效地消除靜電電荷。由于系統(tǒng)隨時(shí)可生產(chǎn)和位置正離子和負(fù)離子之間的理想平衡，便可以穩(wěn)定地離子化帶電物體，且不會污染周邊區(qū)域。它也可以消除樣品處理過程中意外生成的靜電電荷。