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JSM-7100F肖特基場發(fā)射掃描電鏡采用通用性強的out-lens式物鏡和High Power Optics（高性能電子光學(xué)系統(tǒng)），操作非常方便。
基于用戶友好的SEM可以和具有多種特性的附件組合，如低加速電壓下高分辨率的觀察和分析、異種信號的同時觀察 （TTLS系統(tǒng)）、低真空模式（LV系統(tǒng)）下的觀察和分析、用大視場觀察和分析（LDF系統(tǒng)）等，可以滿足每個用戶的個性化需求。
由于在樣品附近沒有磁場泄漏，對磁性材料樣品的高分辨率觀察和EBSD測試非常有效，是一款對所有材料的形貌觀察及各種分析能發(fā)揮威力的多功能掃描電鏡。安裝選配件TTL能獲得更多的樣品信息。此外，配合使用Gentle Beam （GB模式即柔和光束），以數(shù)百電子伏的極低能量可以觀察樣品的淺表面。
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