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美國(guó)Spectral Evolution公司生產(chǎn)的oreXpress礦物光譜儀可以野外使用，能夠?qū)崟r(shí)準(zhǔn)確的進(jìn)行礦物種類識(shí)別、鑒定和定量分析。

oreXpress™礦物光譜儀的光譜范圍為350~2500nm，在礦物勘探和開(kāi)采領(lǐng)域具有廣泛的用途，有助于地質(zhì)學(xué)家快速高效地識(shí)別金、銀、鐵、銅、鉆石、鋁、鈾和稀土元素的伴生礦，以及系列礦床類型，包括斑巖、金伯利巖、剪切脈、矽卡巖等。在一個(gè)巖芯分析案例中，通過(guò)光譜儀可以把6小時(shí)的工作削減到只需要兩個(gè)小時(shí)。

應(yīng)用領(lǐng)域：● 蝕變帶制圖

● 礦物區(qū)域制圖

● 快速識(shí)別露天礦坑

● 分析地面巖層，標(biāo)本，RC芯片，爆破孔

● 快速分析巖芯樣品

特點(diǎn)：● 設(shè)計(jì)小巧、緊湊，適合野外便攜使用

● 信噪比高、野外快速確定礦物種類

● 350-2500nm全譜段波譜穩(wěn)定測(cè)量

● 專業(yè)的DARWin SP數(shù)據(jù)采集軟件

● 集成藍(lán)牙無(wú)線通訊 ，可替換的高性能輕便鋰離子充電電池

● GETAC PS336 掌上終端，具有GPS、拍照、語(yǔ)音記錄、測(cè)量存儲(chǔ)等功能

● 接觸式反射探頭具有手槍式手柄、內(nèi)置5W鎢光源、藍(lán)寶石窗體

● EZ-ID礦物識(shí)別軟件內(nèi)置USGS礦物光譜庫(kù)

● 具有樣品光譜和標(biāo)準(zhǔn)光譜庫(kù)比對(duì)功能

EZ-ID軟件實(shí)時(shí)礦物鑒定 oreXpress光譜儀的EZ-ID軟件，可以把測(cè)量的礦物數(shù)據(jù)和USGS 或 SpecMIN礦物庫(kù)進(jìn)行比對(duì)，并建立一個(gè)自定義庫(kù)。EZ-ID軟件可以將礦物樣品數(shù)據(jù)和礦物樣本庫(kù)進(jìn)行比較，并采用多種算法提供更精確匹配?？梢栽谲浖线x取不同的礦物光譜區(qū)域，同時(shí)屏幕上會(huì)顯示比對(duì)結(jié)果，下圖是高嶺石樣品和USGS光譜庫(kù)匹配結(jié)果，可以看出軟件窗口顯示的樣品比對(duì)結(jié)果為0.984，接近于1.000可認(rèn)為完全匹配。用戶可以通過(guò)EZ-ID軟件在實(shí)驗(yàn)室或野外現(xiàn)場(chǎng)快速鑒定礦物樣品。

EZ-ID軟件建立自定義光譜庫(kù)：

EZ-ID軟件除了可以和商業(yè)光譜庫(kù)進(jìn)行礦物光譜匹配外，也可以構(gòu)建自定義礦物光譜庫(kù)，或者創(chuàng)建某類礦物的自定義光譜庫(kù)，方法如下：

● 用orexpress光譜儀測(cè)量樣品

● 選擇測(cè)量的光譜數(shù)據(jù)

● 定義光譜數(shù)據(jù)

● 將測(cè)量的樣品添加到自定義光譜庫(kù)

● 測(cè)量新樣品

EZ-ID軟件的自定義光譜庫(kù)模塊，可在*短的時(shí)間內(nèi)有效測(cè)量樣品光譜，快速識(shí)別礦物，保存光譜數(shù)據(jù)，將數(shù)據(jù)增加到現(xiàn)有光譜庫(kù)或創(chuàng)建新的自定義光盤(pán)庫(kù)。

oreXpress野外測(cè)量應(yīng)用介紹：(A)GETAC PS336 掌上終端、便攜式背包、oreXpress光譜儀野外礦物測(cè)量。

(B)oreXpress也是**的巖芯測(cè)量?jī)x器，光譜可以被EZ-ID存儲(chǔ)起來(lái)用于以后的化學(xué)計(jì)量學(xué)分析也可使用第三方軟件確定礦物種類。

(C)GETACPS336掌上終端具有自動(dòng)對(duì)焦數(shù)碼相機(jī)，電子羅盤(pán)，高度計(jì)，語(yǔ)音記事功能，在測(cè)量的同時(shí)，可同步記錄GPS/照片/聲音/筆記信息。

oreXpress光譜儀與下列軟件包兼容：SpecMIN™礦石標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)，用于光譜學(xué)，包括對(duì)礦物動(dòng)態(tài)選擇參比光譜，波長(zhǎng)搜索/匹配表，礦物物理特性，以及礦物紅外特性的參考文獻(xiàn)。

GRAMS軟件，用于可視化處理和管理光譜數(shù)據(jù)。它提供的工具能夠捕獲、存儲(chǔ)、處理和輸出數(shù)據(jù)，結(jié)合圖形化的多元分析工具進(jìn)行定性和定量分析。

TSG™用于礦物、巖石、土壤光譜反射率數(shù)據(jù)和地質(zhì)分析。

主要參數(shù)：