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博曼X射線膜厚測(cè)試儀分析:
元素范圍:鋁13到鈾92。
x射線激發(fā)能量:50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管
探測(cè)器:SDD
測(cè)量的分析層和元素:5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個(gè)鍍層成分分析的同時(shí)多達(dá)25元素
過(guò)濾器/準(zhǔn)直器:4個(gè)初級(jí)濾波器,4個(gè)電動(dòng)準(zhǔn)直器(0.1 0.2 0.3 1.5mm)
聚焦:多固定聚焦與激光系統(tǒng)
數(shù)字脈沖處理:4096 多通道數(shù)字分析器與自動(dòng)信號(hào)處理,包括X射線時(shí)間修正和防X射線積累
電腦:英特爾酷睿i5 3470處理器(3.2 ghz),8 gb DDR3內(nèi)存,微軟Windows 7專業(yè)64位等效
鏡頭:1/4 " cmos - 1280 x720 VGA分辨率
電源:150 w、100 ~ 240伏,頻率范圍47赫茲到63赫茲
工作環(huán)境:50°F(10°C)到104°F(40°C)小于98% RH,無(wú)冷凝水
重量:32公斤
內(nèi)部尺寸:高:140毫米(5.5“),寬:310毫米(12),深:210毫米(8.3”) 140*310mm
外形尺寸:高:450毫米(18英寸),寬:450毫米(18),深:600毫米(24) 450*450mm
博曼X射線膜厚測(cè)試儀主要用于鍍層或涂層厚度的測(cè)量,而且特別適合于對(duì)微細(xì)表面積或超薄鍍層的測(cè)量。博曼PCB板臺(tái)式膜厚測(cè)試儀采用真正的基本參數(shù)原理(FP)來(lái)測(cè)量厚度.
精度高
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