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X射線光譜儀品牌
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? 新型的TXS光譜儀可在HHG光束（高頻光束）、X射線自由電子激光器和臺式X射線激光器上進(jìn)行準(zhǔn)確的光子診斷。(HHG beamlines, X-ray freeelectron lasers, and table-top X-ray lasers)
? 對 X 射線光譜進(jìn)行指紋識別以進(jìn)行在線光束表征，透射光束保持不受干擾，透射率大于 90%，以便進(jìn)一步用于實(shí)驗(yàn)。(In von Hamos geometry with high-efficiency backscattering)。
? 單次可測量2 keV 和 4 keV 之間的光子能量。
? 通過簡單地將反向散射探針與材料樣品交換，hardLIGHT TXS即可用于X射線發(fā)射光譜測量（XES）。
? 軟X射線范圍提供了對許多材料的化學(xué)狀態(tài)的高靈敏度通道，例如，在2kV下對硫的研究為電池研究提供了重要的參考。
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