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面議型號
MRS-HI410品牌
產(chǎn)地
蘇州樣本
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鎂伽MRS-HI410系列六面外觀檢測設(shè)備，采用模塊化的設(shè)計，適用于檢測多種不同電子元器件，如電阻、電容、電感、半導(dǎo)體芯片、LED等。檢測項目包括:方向、印章、混料、異物、溢膠、氣泡、劃痕、劃傷、露銅、引腳變形等外觀缺陷和尺寸量測。
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