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面議型號(hào)
金屬光譜分析儀品牌
南京博越產(chǎn)地
江蘇樣本
暫無(wú)分散方式：
-測(cè)量時(shí)間：
-測(cè)量范圍：
165-589nm誤差率：
-分辨率：
-重現(xiàn)性：
-儀器原理：
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[光譜用博越 30秒=18種元素]
5代金屬光譜分析儀技術(shù)參數(shù)：
檢測(cè)基體：鐵基,銅基,鋁基等13種基體
光學(xué)系統(tǒng)：德國(guó)蔡司
波長(zhǎng)范圍：165-589nm
探 測(cè) 器：日本濱松CMOS圖像傳感器
檢測(cè)時(shí)間：一般25秒左右
激發(fā)光源：HEPS高能預(yù)燃光源技術(shù)
儀器尺寸：750*650*350mm
儀器重量：70kg[光譜用博越 30秒=18種元素]
5代金屬光譜分析儀技術(shù)參數(shù)：
檢測(cè)基體：鐵基,銅基,鋁基等13種基體
光學(xué)系統(tǒng)：德國(guó)蔡司
波長(zhǎng)范圍：165-589nm
探 測(cè) 器：日本濱松CMOS圖像傳感器
檢測(cè)時(shí)間：一般25秒左右
激發(fā)光源：HEPS高能預(yù)燃光源技術(shù)
儀器尺寸：750*650*350mm
儀器重量：70kg[光譜用博越 30秒=18種元素]
5代金屬光譜分析儀技術(shù)參數(shù)：
檢測(cè)基體：鐵基,銅基,鋁基等13種基體
光學(xué)系統(tǒng)：德國(guó)蔡司
波長(zhǎng)范圍：165-589nm
探 測(cè) 器：日本濱松CMOS圖像傳感器
檢測(cè)時(shí)間：一般25秒左右
激發(fā)光源：HEPS高能預(yù)燃光源技術(shù)
儀器尺寸：750*650*350mm
儀器重量：70kg
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