參考價(jià)格
面議型號
Phenom Ar-C品牌
飛納產(chǎn)地
荷蘭樣本
暫無探測器：
背散射電子探測器加速電壓：
5kV，10kV，15kV電子槍：
六硼化鈰電子光學(xué)放大：
160-200000x光學(xué)放大：
3-16x分辨率：
優(yōu)于8nm看了飛納手套箱版掃描電鏡的用戶又看了
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Phenom Ar-C 手套箱版掃描電鏡
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在手套箱內(nèi)進(jìn)行空氣敏感材料的制備和分析
Phenom Argon-Compatible Desktop SEM（以下簡稱：Phenom Ar-C）是**一款可以放在氬氣手套箱中安裝并運(yùn)行的掃描電 鏡，可以在手套箱內(nèi)進(jìn)行更安全的樣品制備、顯微觀察和能譜分析。無需將樣品從一臺儀器轉(zhuǎn)移到另一臺儀器，實(shí)現(xiàn)了直接對空氣敏感 樣品的研究，節(jié)省了時(shí)間和資源。
傳統(tǒng)方法與 Phenom 手套箱版臺式掃描電鏡對比
Phenom Ar-C，標(biāo)配四分割背散射電子檢測器（BSD），可獲取清晰的圖像并 提供成分襯度?？梢赃x配二次電子探測器（SED）， 完全集成的能譜（EDS）系 統(tǒng)進(jìn)行元素分析。兼容 ProSuite 拓展軟件，如 ParticleMetric 顆粒統(tǒng)計(jì)分析系 統(tǒng)、PoroMetric 孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)、FiberMetric 纖維統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)和 3D 粗糙度重建系統(tǒng)，來協(xié)助進(jìn)一步分析樣品。
放置于氬氣手套箱中的 Phenom Ar-C
2 μm
電池陰極顆粒的 SEM 圖像
成像模式 | |
光學(xué)顯微鏡 放大倍數(shù)：3 – 16x | |
電子顯微鏡 | 放大倍數(shù)：160 –200,000x |
照明 | |
光學(xué) | 明場和暗場模式 |
電子光學(xué) | • 長壽命 CeB6 燈絲 • 束斑尺寸連續(xù)可調(diào) |
加速電壓 | 基本模式：5kV, 10kV 和 15kV 高級模式：4.8kV - 15kV 連 續(xù)可調(diào)，用于成像和元素分析 |
樣品真空 | 低 - 中 - 高 |
分辨率 | 優(yōu)于 8 nm |
探測器 | |
標(biāo)配 | 背散射電子探測器 |
選配 | 二次電子探測器 能譜探測器 |
圖像檢測 | |
光學(xué) | 高分辨率彩色導(dǎo)航相機(jī) |
電子光學(xué) | 高靈敏度四分割背散射電子探測 器（具有成分模式和形貌模式） |
圖像格式 | |
JPEG, TIFF, BMP | |
圖像分辨率選項(xiàng) | |
960x600, 1920x1200, 3840x2400, 和 7680x4800 像素 | |
數(shù)據(jù)存儲 | |
USB 閃存, 網(wǎng)絡(luò), 工作站 | |
• 網(wǎng)口 | |
• 電源口 • USB 接口 | |
尺寸和重量 主機(jī) | 316(w) x 587(d) x 625(h) mm, 75 kg | |
隔膜泵 | 145(w) x 220(d) x 213(h) mm, 4.5 kg | |
電源 | 156(w) x 300(d) x 74(h) mm, 3 kg | |
顯示器 (24 英寸) | 531.5 (w) x 250 (d) x 515.4 (h) mm, 6.7 kg | |
工作站 | • SSD 存儲和 4 個(gè) USB 插槽 • 92.5 (w) x 305.6 (d) x 343.5 (h)mm, 8 kg | |
樣品尺寸 | ||
• ** 100mm (w) x 100mm (d) x 40mm (h) 樣品掃描區(qū)域 • 50mm x 50mm • 100mm x 100mm（可選） | ||
樣品加載時(shí)間 | ||
光學(xué) | <5 s | |
電子光學(xué) 安裝要求 | <60 s | |
環(huán)境條件 | ||
溫度 | 15 –25°C (59–77°F) | |
H2O / O2 比例要求 | < 0.5 PPM | |
電源 | 單相交流 100–240 V， 50/60 Hz, 平均 163 W， ** 348 W | |
物理參數(shù) | ||
• 建議桌臺規(guī)格為 150 x 75 cm, 承重至少 150 kg • 隔膜泵必須安裝在無明顯振動(dòng)處 | ||
可輸出用戶選定的獨(dú)立元素 背散射電子圖像
元素 / SEM 混合圖像
掃描區(qū)域 任何尺寸的矩形
面掃描像素?cái)?shù) | 32x20–960x600 像素 |
像素停留時(shí)間 | 1 –500 ms |
線掃描 | |
線掃描像素?cái)?shù) 16 –512 像素 | |
線掃描停留時(shí)間 10 –500 ms
Docx 格式
對地質(zhì)樣品進(jìn)行 EDS Mapping 分析
自動(dòng)化
Phenom Ar-C 可通過 PPI（Phenom 編程接口）進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)訪 問，這是一種通過 Python 腳本來運(yùn)行 Phenom Ar-C 的方法。 可以協(xié)助用戶自動(dòng)化分析顆粒、孔隙、纖維或大尺寸 SEM 圖像 的重復(fù)性任務(wù)。如果需要，可以根據(jù)您的具體使用需求提供相應(yīng) 的技術(shù)支持。
CeB6 長壽命燈絲
CeB6（六硼化鈰）長壽命燈絲具有以下幾個(gè)優(yōu)點(diǎn)。首先，與鎢燈 絲相比，提供的高亮度使用戶更易于獲得具有更多細(xì)節(jié)的高質(zhì)量 圖像。第二，燈絲的使用壽命很長，無需頻繁拆開手套箱進(jìn)行更 換，加上定期的維護(hù)保養(yǎng)，這可以為用戶帶來長周期的穩(wěn)定體
驗(yàn)。第三，通過 Phenom 智能軟件可盡可能地延長使用壽命， 當(dāng) Phenom Ar-C 未使用時(shí)，燈絲進(jìn)入休眠狀態(tài)。
優(yōu)中心樣品臺
在許多的 SEM 應(yīng)用中，如果樣品可以傾斜和旋轉(zhuǎn)，有助于更深 入地了解樣品特性。優(yōu)中心樣品臺就是考慮到這一點(diǎn)而專門開發(fā) 的，該樣品臺可以輕松安全地從各個(gè)角度觀察樣品。
高度集成 ProSuite 軟件
操作界面集成化 自動(dòng)識別譜峰
迭代反卷積算法 置信度指標(biāo)可視化
導(dǎo)出功能：CSV, JPG, TIFF, ELID, EMSA
可 4 個(gè)方向移動(dòng)：Z (高度)、R (旋轉(zhuǎn))、T (傾斜) 和 x' (x-prime)
**樣品尺寸 | |
90° 傾斜放置 | Ø ≤30 mm; 高度 ≤32 mm |
< 45° 傾斜放置 | Ø ≤70 mm; 高度 ≤32 mm |
傾斜角度 | |
-15° 和 +90°之間 | |
旋轉(zhuǎn)角度 | |
360° 連續(xù) | |
一款可以放在氬氣手套箱中安裝并運(yùn)行的掃描電 鏡，可以在手套箱內(nèi)進(jìn)行更安全的樣品制備、顯微觀察和能譜分析。無需將樣品從一臺儀器轉(zhuǎn)移到另一臺儀器，實(shí)現(xiàn)了直接對空氣敏感 樣品的研究，節(jié)省了時(shí)間和資源。
今年 11 月 2 日起，每日早七點(diǎn)至晚八點(diǎn)，包括延安高架、南北高架在內(nèi)的多條道路禁止“外牌”、“臨牌”小客車、未載客的出租車等通行。因?yàn)樾履茉雌囓嚺戚^容易獲得，不少人轉(zhuǎn)投新能源汽車，因此帶動(dòng)了新能
2020-12-21
隨著鋼鐵行業(yè)進(jìn)入微利時(shí)代，生產(chǎn)具有更高附加值的高品質(zhì)潔凈鋼也成為鋼鐵企業(yè)自身發(fā)展的需求。因此，潔凈鋼技術(shù)研究及其生產(chǎn)工藝控制技術(shù)目前已是各鋼鐵企業(yè)的重要課題。生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于減少鋼中的雜質(zhì)，而控制
2020-12-21
2020-12-21
近日，西安交通大學(xué)分析測試技術(shù)論壇 101 期 -- 離子研磨技術(shù)助力高質(zhì)量 SEM 樣品制備，在創(chuàng)新港校區(qū)大型儀器設(shè)備共享實(shí)驗(yàn)中心成功舉辦！本次論壇吸引了眾多材料科學(xué)、電子顯微鏡領(lǐng)域的專家
飛納電鏡免費(fèi)測樣活動(dòng) 飛納電鏡走進(jìn)校園免費(fèi)測樣活動(dòng)自開展以來，已經(jīng)在全國各地的高校舉辦了三十余場，受到了廣大師生的高度贊譽(yù)。飛納臺式掃描電鏡，憑借其便攜性和超強(qiáng)的穩(wěn)定性，為師生們
在數(shù)字化浪潮席卷全球的今天，半導(dǎo)體作為信息技術(shù)的核心支撐，其產(chǎn)業(yè)發(fā)展態(tài)勢迅猛。隨著 5G、人工智能、大數(shù)據(jù)等新興技術(shù)不斷突破，對半導(dǎo)體性能的要求也達(dá)到了前所未有的高度。半導(dǎo)體封裝檢測及失效分析作為半導(dǎo)
在新能源汽車和儲能系統(tǒng)領(lǐng)域，鋰離子電池正極材料的性能突破始終是行業(yè)關(guān)注焦點(diǎn)。近期，英國華威大學(xué)及法拉第研究所發(fā)表于《PRX Energy》的一項(xiàng)突破性研究成果揭示了 PALD（粉末原子層沉積）技術(shù)在抑
二維材料因其高的表面積與體積比而不穩(wěn)定，對環(huán)境因素如水分、氧氣和污染物高度敏感。這種敏感性會(huì)導(dǎo)致它們在自然環(huán)境氣氛下降解或發(fā)生化學(xué)變化。為解決這些挑戰(zhàn)，南方科技大學(xué)先進(jìn)低維材料實(shí)驗(yàn)室（SuSTech）
在材料科學(xué)和納米技術(shù)領(lǐng)域，精確制備高質(zhì)量的透射電子顯微鏡（TEM）和掃描透射電子顯微鏡（STEM）樣品是實(shí)現(xiàn)原子級分辨率成像和分析的關(guān)鍵。Technoorg Linda 公司生產(chǎn)的 Gent
飛納手套箱版掃描電鏡的工作原理介紹？飛納手套箱版掃描電鏡的使用方法？飛納手套箱版掃描電鏡多少錢一臺？飛納手套箱版掃描電鏡使用的注意事項(xiàng)飛納手套箱版掃描電鏡的說明書有嗎？飛納手套箱版掃描電鏡的操作規(guī)程有嗎？飛納手套箱版掃描電鏡的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？飛納手套箱版掃描電鏡有現(xiàn)貨嗎？飛納手套箱版掃描電鏡包安裝嗎？
手機(jī)版：
工商已核實(shí)
