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TFX-R1———光學(xué)膜厚測量設(shè)備品牌
睿勵科學(xué)產(chǎn)地
江蘇樣本
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l 可量測多種材料薄膜
l 提供薄膜可靠和精確的厚度、折射率、成分比率和應(yīng)力測量
l 輸出產(chǎn)能高,具有較高的性價比
l 光斑尺寸更小
l 可量測范圍更寬廣,超厚膜和超薄膜量測能力更穩(wěn)定
l 全新橢圓偏振光路設(shè)計(jì)
l 機(jī)械運(yùn)動性能可靠,穩(wěn)定性表現(xiàn)**
l 功能豐富、易用的軟件和算法
l 全面支持工廠自動化要求
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