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布魯克電鏡專用原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)PI 88圖片
本圖片來自布魯克納米表面儀器部（Bruker Nano Surfaces）提供的布魯克電鏡專用原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)PI 88，型號(hào)為的比表面積測(cè)定儀，產(chǎn)地為美國(guó)，屬于品牌，參考價(jià)格為面議，公司還可為用戶供應(yīng)高品質(zhì)的布魯克透射電鏡專用原位納米力學(xué)系統(tǒng)PI 95、場(chǎng)掃描共聚焦成像系統(tǒng)BrukerOpterra II等產(chǎn)品。布魯克納米表面儀器部（Bruker Nano Surfaces）是中國(guó)粉體網(wǎng)的會(huì)員，合作關(guān)系長(zhǎng)達(dá)2年，工商信息已通過人工核驗(yàn)，獲得粉享通誠(chéng)信認(rèn)證，請(qǐng)放心選擇！
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布魯克納米表面儀器部（Bruker Nano Surfaces）
會(huì)員2年
營(yíng)業(yè)執(zhí)照已認(rèn)證
品牌性質(zhì)：生產(chǎn)商
廠商榮譽(yù)：
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