在生產太陽能電池的過程中，磨粉漿是線鋸切割過程中必不可缺的耗材。馬爾文公司的Sysmax FPIA-3000顆粒成像分析儀能夠快速高效地實現顆粒定量分析，監(jiān)測磨粉漿的損耗，使其在不影響產品質量的情況下得到最大限度的循環(huán)利用。

在光伏、半導體以及微電子企業(yè)中，多重線鋸技術被廣泛應用于切割硅晶板。為提高效率，降低成本，減少廢料，磨粉漿的循環(huán)利用勢在必行，因此需要精密監(jiān)控漿液中由切割過程形成顆粒的濃度，防止產品質量的下降。漿液中形成的固體顆粒通過離心分離去除后，磨粉漿即可被安全的循環(huán)使用。

顆粒成像儀FPIA-3000能夠實時分析漿液樣品中的顆粒，其內置的CCD成像最高可同時捕捉到360000個顆粒。提供的實驗結果包括粒徑、粒形、分布與顆粒數等統計參數,并具備易于操作，自動成像技術重現性好，分析結果完備的特點。僅需按下啟動按鈕，2分鐘后即能得到分析結果。 FPIA-3000成像儀可以為0.8至300微米的顆粒提供高質量的成像，能適應日常監(jiān)測的需求，可靠地表征顆粒的粒徑分布與粒形分布,是表征乳液和懸液的理想方案。

粒形信息是分析大量顆粒之后得到的統計值。因此粒徑與粒形數據通常需要將所有顆粒成像的實驗數據進一步分析處理后得到。 更多詳細信息,請訪問www.malvern.com.cn

馬爾文與馬爾文儀器是馬爾文儀器公司的注冊商標。