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第50屆全國高教儀器設(shè)備展示會于今日在南京國際展覽中心（江蘇省南京市玄武區(qū)龍蟠路88號）開幕。北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司作為全國高教儀器設(shè)備展示會推薦企業(yè)再次亮相。屆時，在4號館4N60展位現(xiàn)場展示BK200C、DX比表面測定儀系列產(chǎn)品，期待您的蒞臨，真誠邀您共與盛典。

JW-BK200C研究級超高性能雙站比表面及微孔孔隙度分析儀，完全繼承JW系列孔徑分析儀所有技術(shù)特點，自主獨特創(chuàng)新。該款儀器核心硬件全部采用國際先進品牌，配備有“渦輪分子泵”及1Torr(或0.1Torr)小量程壓力傳感器，配合微孔分析模型的準(zhǔn)確應(yīng)用，完全實現(xiàn)了微孔的精確分析，氮吸附微孔最小孔徑實際可測達0.35nm，測試結(jié)果準(zhǔn)確性、精確性、穩(wěn)定性完全達到進口同類儀器水平，性價比極高，非常適合活性炭、活性氧化鋁、分子篩、沸石、MOF材料等超微孔納米粉體材料的研究。

JW-DX型動態(tài)吸附比表面測定儀，JW發(fā)明專利，創(chuàng)新的結(jié)構(gòu)，每個樣品單獨吸附，互不干擾，吸附峰尖銳，靈敏度大大提高，通過吸附峰直接對比得到比表面，測試準(zhǔn)確、穩(wěn)定，比表面下限降低一個數(shù)量級，非常適合電池正負極材料尤其是石墨等小比表面材料的檢測。

北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司成立于2004年，是中國新一代動態(tài)BET比表面儀、單氣路常壓動態(tài)孔徑分析儀、靜態(tài)容量法比表面及孔徑分析儀，高精度靜態(tài)微孔徑分析儀等儀器的原創(chuàng)廠家，是中國比表面及孔徑分析儀器行業(yè)中唯一的CISILE“自主創(chuàng)新金獎”獲得者，被譽為“中國氮吸附儀的開拓者和領(lǐng)航者”。

關(guān)于第50屆全國高教儀器設(shè)備展示會

作為高等教育領(lǐng)域舉辦時間最長、規(guī)模最大、影響力最強的專業(yè)品牌展會，全國高教儀器設(shè)備展示會創(chuàng)立于1992年秋，上海培清科技就參加了首屆展會，以后每年春、秋兩屆均有參加，延續(xù)至今。高教會被譽為中國高等教育系統(tǒng)的“廣交會”，教育設(shè)備廠家的盛會，已成功舉辦49屆。