北京精微高博將參展第七屆世界顆粒大會(huì)
精微高博 2014-05-08 | 閱讀：1844
2014年5月19日，每四年一次的顆粒檢測領(lǐng)域的行業(yè)盛會(huì)--第七屆世界顆粒大會(huì)（WCPT-7）將在北京國際會(huì)議中心拉開帷幕。本次大會(huì)由中國顆粒學(xué)會(huì)、中科院過程工程研究所承辦，中科院副院長、中國顆粒學(xué)會(huì)理事長李靜海院士擔(dān)任會(huì)議主席。預(yù)計(jì)本次會(huì)議的參會(huì)代表將達(dá)1000多人。
北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司將屆時(shí)參展，現(xiàn)場展示我公司最受客戶歡迎的精密國產(chǎn)好儀器：研究級比表面及孔徑測試儀（型號：JW-BK200B）、全自動(dòng)真密度儀（型號：JW-M100）等物性測試儀器，誠邀廣大從事顆粒學(xué)和顆粒技術(shù)研究與開發(fā)的專家學(xué)者、工程技術(shù)人員蒞臨現(xiàn)場參觀！
精微高博（JWGB）展位號：32
會(huì)議時(shí)間：2014年5月19日—21日
會(huì)議地址：北京國家會(huì)議中心（北京市朝陽區(qū)天辰東路7號）
欲了解更多詳情，請致電010-63326034 68949825 68949817
北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司市場部
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