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        2012年10月18日，中國顆粒學(xué)會與北京粉體技術(shù)協(xié)會在上海舉辦2012 年顆粒測試與表征技術(shù)培訓(xùn)班，麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司總經(jīng)理許人良博士應(yīng)邀在該培訓(xùn)班上做技術(shù)培訓(xùn)。此次培訓(xùn)主講內(nèi)容為納米顆粒Zeta 電位測定以及應(yīng)用和粉體表面吸附技術(shù)。歡迎大家報名參與。

培訓(xùn)時間：10月18日下午13:30-15:00

培訓(xùn)地點：上海國際展覽中心（長寧區(qū)興義路77 號，電話：62755800）二樓多功能廳

培訓(xùn)班收費：免費

主講人：麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司總經(jīng)理許人良博士

如想?yún)⑴c，請將姓名、單位、電話和E-mail發(fā)送至guo.rui@micromeritics.com。

許人良博士簡介：

         許人良博士現(xiàn)任麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司總經(jīng)理。從事顆粒特性研究和檢測技術(shù)30多年，是該領(lǐng)域國際資深著名專家。他于1987年和1988年在美國the State University of New York at Stony Brook獲得碩士和博士學(xué)位。2002年獲得美國Nova Southeastern University的MBA學(xué)位。

        他發(fā)表了基礎(chǔ)理論研究和應(yīng)用領(lǐng)域的科技文章100余篇；獲得2項美國專利；研究成果在科學(xué)檢索引用超過1500多次；在美國各大學(xué)和世界各地進(jìn)行過學(xué)術(shù)講座100多次；并著有顆粒表征中的權(quán)威著作《Particle Characterization: Light Scattering Methods》。現(xiàn)在擔(dān)任5個專業(yè)期刊（Macromolecules, Langmuir, J. Coll. Inter. Sci.，等期刊）的評委；ISO, ASTM, IAB of PERC的委員會成員；多項國際標(biāo)準(zhǔn)的起草者；被列為美國和世界名人榜。許人良博士經(jīng)?；钴S在中國國內(nèi)學(xué)術(shù)領(lǐng)域，在多所大學(xué)進(jìn)行科技講座。現(xiàn)任上海華東理工大學(xué)兼職教授，上海師范大學(xué)兼職教授，沈陽科學(xué)技術(shù)學(xué)會特邀外國專家。他是美國化學(xué)學(xué)會(ACS)會員、美國物理學(xué)會(APS)會員、美國化學(xué)工程師學(xué)會(AIChE)會員、美國檢測和材料學(xué)會（ASTM）會員，中國顆粒學(xué)會會員，國際粉體檢測與控制聯(lián)合會會員。

       他曾獲得的榮譽和獎勵有：美國榮譽協(xié)會Sigma Beta Delta獎；A Certificate of Appreciation by Mayor of Metropolitan Dade County, FL；The Postdoctoral Fellowship awarded by National Science Engineering Research Council of Canada；A Certificate for the Sherwin-Williams Award by American Chemical Society；The World Bank Fellowship by the United Nation等。