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對粒度分析來說，沒有一種測試技術(shù)能夠滿足所有材料的應(yīng)用需求，選擇正確的測試方法是獲得可靠數(shù)據(jù)的關(guān)鍵，美國麥克儀器公司提供多種測定顆粒數(shù)量以及粒度分布的儀器，對應(yīng)不同的測試方法，滿足不同的應(yīng)用。

納米粒度與Zeta電位解決方案-Nanoplus納米粒度與Zeta電位儀

NanoPlus是獨特的利用光子相關(guān)光譜法和電泳光散射技術(shù)測量粒度、Zeta電位和分子量的儀器。該儀器結(jié)構(gòu)緊湊、易于使用、分析范圍廣、帶有交互式軟件和多個樣品池，滿足不同用戶的應(yīng)用。

·         三種型號可選：納米粒度儀、Zeta電位儀，納米粒度與Zeta電位儀

·         測量懸浮液樣品粒度范圍：0.1nm~12.3μm，濃度范圍0.00001%~40%

·         測量懸浮液樣品Zeta電位范圍：無范圍限制，濃度范圍：0.001%~40%

·         可配備自動滴定儀以及多種樣品池

費氏粒徑解決方案-SAS全自動費氏粒徑測試儀

麥克儀器SAS全自動費氏粒徑測試儀，是由費氏95粒徑儀（FSSS）發(fā)展和升級而來，空氣滲透技術(shù)是公認(rèn)的粉體樣品比表面積（SSA）測試技術(shù)。使用該技術(shù)測定的SSA數(shù)據(jù)已經(jīng)在多個行業(yè)廣泛使用，例如：藥物、金屬涂料、顏料和地質(zhì)等行業(yè)

·         粒徑范圍：0.2-75μm

·         設(shè)計生產(chǎn)費氏粒度數(shù)據(jù)，保證數(shù)據(jù)一致性

·         安裝方便，實時數(shù)據(jù)顯示

電阻法顆粒技術(shù)解決方案- ElzoneⅡ顆粒計數(shù)與粒度分析儀

ElzoneⅡ顆粒計數(shù)與粒度分析儀采用電阻法這種有效的顆粒粒度表征技術(shù)，適用于同時分析具有不同光學(xué)性質(zhì)、密度、顏色和形狀的顆粒樣品可迅速、精確地檢測精細顆粒材料的尺寸、數(shù)目、濃度以及質(zhì)量。ElzoneⅡ被廣泛應(yīng)用于工業(yè)、生物、地質(zhì)等粒度大于0.4μm的顆粒，具有極高的準(zhǔn)確度和分辨率，操作非常簡便。

·         測量范圍：0.4到266μm，有機或者無機材料

·         可使用不同的導(dǎo)電液，不需要輸入液體性質(zhì)參數(shù)

·         無需事先獲得材料性質(zhì)參數(shù)（密度、折射率等）

·         全自動操作：啟動、運行、關(guān)閉、檢測并清除障礙物、沖洗和校準(zhǔn)

·         CCD照相機可實時視頻顯示光圈

X光沉降粒度解決方案-SediGraph IIX光沉降粒度分析儀

結(jié)合成熟的SediGraph分析技術(shù)， SediGraph III通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度，無需模型，儀器有很好的重復(fù)性、精確性和重現(xiàn)性。