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一、介紹

1、理論框架

顆粒狀材料和精細(xì)粉體在工業(yè)上有著廣泛的應(yīng)用，為了控制和優(yōu)化加工方法，必須對(duì)這些材料進(jìn)行精確表征。表征方法既與顆粒的性質(zhì)（粒度、形態(tài)、化學(xué)成分等）有關(guān)，也與粉體的行為（流動(dòng)性、密度、共混穩(wěn)定性、靜電性能等）有關(guān)。然而，關(guān)于散裝粉體的物理性能，大多數(shù)在研發(fā)或質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室使用的技術(shù)是基于舊的測(cè)量技術(shù)。在過(guò)去的十年中，我們更新了這些技術(shù)，以滿足研發(fā)實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)部門(mén)目前的要求。特別是測(cè)量過(guò)程自動(dòng)化并開(kāi)發(fā)了嚴(yán)格的初始化方法，以獲得可重復(fù)和可解釋的結(jié)果。利用圖像分析技術(shù)提高了測(cè)量精度。

一些用以涵蓋對(duì)所有工業(yè)加工粉體和顆粒材料的測(cè)量方法應(yīng)運(yùn)而生。在本應(yīng)用中著重對(duì)GranuHeap設(shè)備進(jìn)行介紹。