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鍍層作為保證電子行業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量可靠性和穩(wěn)定性的主要工藝，其厚度是產(chǎn)品質(zhì)量的*重要保證因素，因此，對鍍層厚度的質(zhì)量控制/保證至關(guān)重要，X射線熒光（XRF）因為其非破壞性、測量快速、易于使用，已成為一種廣泛使用的鍍層厚度和成分測量技術(shù)。

曉INSIGHT專為微光斑和超薄鍍層分析而設(shè)計，可提供極高的計數(shù)率，用于測量小于 50 μm 的特征上的納米級鍍層，并提供高精度的檢測結(jié)果，同時保持較短的測量時間，這借助于其內(nèi)部采用高強(qiáng)度毛細(xì)管光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度的檢測器。幫助諸多的PCB、半導(dǎo)體等電子相關(guān)行業(yè)輕松應(yīng)對超薄鍍層帶來的檢測挑戰(zhàn)，有效提高生產(chǎn)力，確保符合規(guī)范，以避免出現(xiàn)性能低下的風(fēng)險以及與廢料或返工相關(guān)的成本。