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產(chǎn)品信息
特 點(diǎn)
? 可測從0nm開始的低（殘留）相位差
? 光軸檢出同時(shí)可高速測量相位差(Re.)
（相當(dāng)于世界*快速的0.1秒以下來處理）
? 無驅(qū)動(dòng)部，重復(fù)再現(xiàn)性高
? 設(shè)置的測量項(xiàng)目少，測量簡單
? 測量波長除了550nm以外，還有各種波長
? Rth測量、全方位角測量
（需要option的自動(dòng)旋轉(zhuǎn)傾斜治具
? 通過與拉伸試驗(yàn)機(jī)組合，可同時(shí)評(píng)價(jià)膜的偏光特性和光弾性
(本系統(tǒng)屬特注。）
測量項(xiàng)目
? 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
? 主軸方位角（θ[deg.]）
? 橢圓率（ε）?方位角（γ）
? 三次元折射率（NxNyNz）
用 途
? 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
? 樹脂、玻璃等透明、非均質(zhì)材料（玻璃有變形，歪曲等）
原 理
? 什么是RE-200
?
RE-200是光子結(jié)晶素子（偏光素子）、CCD相機(jī)構(gòu)成的偏光計(jì)測模塊和透過的偏光光學(xué)系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機(jī)1次快門獲取偏光強(qiáng)度模式，沒有偏光子旋轉(zhuǎn)的機(jī)構(gòu)，系統(tǒng)整體上是屬于小型構(gòu)造，長時(shí)間使用也能維持穩(wěn)定的性能。
仕 樣
型號(hào) | RE series |
|---|---|
樣品尺寸 | *小10×10mm ～**100×100mm |
測量波長 | 550nm （標(biāo)準(zhǔn)仕樣）※1 |
相位差測量范圍 | 約0nm ～約1μm |
軸檢出重復(fù)精度 | 0.05°（at 3σ） ※2 |
檢出器 | 偏光計(jì)測模塊 |
測量光斑直徑 | 2.2mm×2.2mm |
光源 | 100W 鹵素?zé)艋?LED光源 |
本體?重量 | 300(W) × 560(H) ×430（D) mm 、約20kg |
Option
? Rth測量、全方位角測量※治具本體（旋轉(zhuǎn)：180°, 傾斜：±50°）
? 動(dòng)旋轉(zhuǎn)傾斜治具
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大塚電子利用光技術(shù)，開發(fā)出各種分析測量裝置，給客戶提供尖端測量技術(shù)支持。以測量技術(shù)、應(yīng)用示例等重點(diǎn)介紹為主，定期舉辦Webinar(網(wǎng)絡(luò)研討會(huì))。
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