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INSTEMS系列為用戶提供了7種原位TEM實驗平臺。其中包含三種單外場施加平臺，三種雙外場耦合平臺和一種三外場耦合平臺。三種單外場產(chǎn)品為INSTEMS-M（力學(xué)加載）、INSTEMS-E（電學(xué)加載）和INSTEMS-T（熱場加載）；三種雙外場耦合產(chǎn)品為INSTEMS-ME（力電耦合）、INSTEMS-TE（熱電耦合）和INSTEMS-MT（力熱耦合）；一種三外場耦合產(chǎn)品為INSTEMS-MET（力熱電耦合）。
產(chǎn)品介紹：
INSTEMS-TE可以實現(xiàn)多種模式的電學(xué)施加和高精度的電學(xué)測量。在此基礎(chǔ)上，通過選擇單一熱源或相互獨立的雙熱源模式，可實現(xiàn)均勻熱場或梯度熱場的施加。這一獨特優(yōu)勢使該產(chǎn)品不僅滿足傳統(tǒng)熱學(xué)和電學(xué)領(lǐng)域，也滿足熱電領(lǐng)域的研究需求。
突出優(yōu)勢：
1、多種力學(xué)加載模式
拉伸/壓縮/壓痕/彎曲/沖擊/蠕變/疲勞
自動/手動/循環(huán)加載
牛頓級驅(qū)動器(> 100 mN)
pm級驅(qū)動控制
2、多種力學(xué)加載模式
拉伸/壓縮/壓痕/彎曲/沖擊/蠕變/疲勞
自動/手動/循環(huán)加載
牛頓級驅(qū)動器(> 100 mN)
pm級驅(qū)動控制
3、雙軸傾轉(zhuǎn)
α 軸傾轉(zhuǎn)**至±20°
β 軸傾轉(zhuǎn)**至±10°
4、穩(wěn)定的原子尺度成像
極限樣品漂移＜50 pm/s
空間分辨率≤0.1 nm
技術(shù)指標(biāo)：
加熱范圍 | RT up to 800 ℃ |
加熱準(zhǔn)確性 | ≥98% |
加熱速率 | >10000 °C/s |
**電壓 | ± 30 V |
電流測量范圍 | 1 pA-1 A |
空間分辨率 | ≤0.1 nm |
EDS兼容性 | √ |
應(yīng)用領(lǐng)域：
熱電材料
半導(dǎo)體
相變存儲
電池可靠性
失效分析
介電材料
……
暫無數(shù)據(jù)！
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移動端
工商已核實
