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PS50型三維表面形貌儀是一款科研版的三維表面形貌測(cè)量設(shè)備，采用國(guó)際**的白光共聚焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試，具有測(cè)量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)，該儀器性價(jià)比高，可用于取代傳統(tǒng)的探針式表面形貌儀與干涉式表面形貌儀。

產(chǎn)品特性

采用白光共聚焦色差技術(shù)，可獲得納米級(jí)的分辨率

測(cè)量具有非破壞性，測(cè)量速度快，精確度高

測(cè)量范圍廣，可測(cè)透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋 光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…)；

尤其適合測(cè)量高坡度高曲折度的材料表面

不受環(huán)境光的影響

測(cè)量簡(jiǎn)單，樣品無(wú)需特殊處理

Z方向，測(cè)量范圍大：為27mm

主要技術(shù)參數(shù)

掃描范圍：50×50（mm）

掃描步長(zhǎng)：0.1μm

掃描速度：20mm/s

Z方向測(cè)量范圍：27mm

Z方向測(cè)量分辨率：2nm

產(chǎn)品應(yīng)用

MEMS、半導(dǎo)體材料、太陽(yáng)能、摩擦磨損、汽車、腐蝕、砂紙、巖石等。