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顆粒形貌分析儀圖片
本圖片來(lái)自成都精新粉體測(cè)試設(shè)備有限公司提供的顆粒形貌分析儀，型號(hào)為JX-2000的成都精新顆粒圖像測(cè)試儀，產(chǎn)地為四川成都，屬于品牌，參考價(jià)格為面議，公司還可為用戶供應(yīng)高品質(zhì)的顆粒圖像測(cè)試儀、顆粒圖像處理儀等產(chǎn)品。成都精新粉體測(cè)試設(shè)備有限公司是中國(guó)粉體網(wǎng)的白金會(huì)員，合作關(guān)系長(zhǎng)達(dá)18年，工商信息已通過(guò)人工核驗(yàn)，獲得粉享通誠(chéng)信認(rèn)證，請(qǐng)放心選擇！
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成都精新粉體測(cè)試設(shè)備有限公司
白金會(huì)員18年
營(yíng)業(yè)執(zhí)照已認(rèn)證
品牌性質(zhì)：生產(chǎn)商
廠商榮譽(yù)：
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核心參數(shù)
誤差率：
≤1%分辨率：
0.1μm重現(xiàn)性：
1%儀器原理：
圖像分析分散方式：
濕法分散測(cè)量時(shí)間：
30min測(cè)量范圍：
0.5-3000μm
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