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許多微孔材料(例如分子篩,活性炭等。)在進行自由空間測量時,由于暴露在He 氣中幾個小時,會將He 捕捉并保存在它們復雜的孔結構中,最終影響到分析低壓區(qū)數(shù)據(jù),在低壓區(qū)出現(xiàn)S 型曲線。本文針對這種情況,給出了相應的解決方案,不僅羅列出相應的注意事項和需要采用的工具,還詳細的描述了測試文件如何編輯和選擇,并進行了舉例說明。
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