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90Plus PALS高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀是目前**能夠精確測(cè)量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器，它采用的是真正的硬件PALS（相位分析光散射）技術(shù)，比其它測(cè)量Zeta電位的技術(shù)靈敏度高1000倍！

高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀概述

PALS技術(shù)（PALS：Phase Analysis Light Scattering）是由布魯克海文儀器公司開發(fā)的一項(xiàng)全新的Zeta電位測(cè)量技術(shù)，與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍。許多從事新材料、生命科學(xué)、環(huán)境工程等新興學(xué)科的研究人員長期以來苦于無法對(duì)諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近這些測(cè)量條件下的樣品進(jìn)行分析，這就是因?yàn)槠潆娪具w移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統(tǒng)方法沒有足夠的靈敏度進(jìn)行測(cè)量，ZetaPALS的出現(xiàn)為他們提供了準(zhǔn)確可信的測(cè)量技術(shù)。

典型應(yīng)用

1.脂質(zhì)體、生物膠體

2.陶瓷

3.顏料、油墨

4.醫(yī)藥

5.乳劑（食品、化妝品）

6.廢水處理

7.膠乳

8.炭黑

高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀應(yīng)用案例

  不同粒徑對(duì)Zeta電位等電點(diǎn)的影響         不同官能團(tuán)配比對(duì)等電點(diǎn)的影響           Zeta電位值與細(xì)胞吸收度的關(guān)系

通過調(diào)整顆粒的粒徑或正負(fù)電荷官能團(tuán)的比例，混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點(diǎn)可以在4～7之間明顯的變化，不同比例的官能團(tuán)和顆粒的靜電荷對(duì)動(dòng)物細(xì)胞吸收度有著重大影響。（數(shù)據(jù)摘自JACS）

高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀技術(shù)參數(shù)

1.Zeta電位部分：

1）Zeta電位測(cè)量適用粒度范圍：0.001-100μm

2）樣品體積：0.18～1.5mL

3）pH值測(cè)量范圍：1-14

4）電導(dǎo)率范圍：0-30S/m

5）電泳遷移率范圍：10^-11～10^-7m²/V.s

6）溫度控制：-5 ~110℃, ±0.1℃

7）電場(chǎng)強(qiáng)度：0 ～ 60kV/m

8）電極：**性開放式電極，電極材料純鈀

2.粒度及分子量測(cè)量部分：

1）粒度范圍：0.3nm～10μm（與折射率，濃度，散射角有關(guān)）

2）典型精度：1％

3）樣品類型：任何膠體范圍大小的顆粒（懸浮于清液中）

4）樣品體積：1～3ml

5）分子量測(cè)定范圍：342～2×10⁷Dalton

6）激光源：40mW固體激光器（可選5mW He-Ne激光器）

7）檢測(cè)器：PMT或APD

8）相關(guān)器：4×10¹¹線性通道；動(dòng)態(tài)可變采樣時(shí)間、延遲時(shí)間、通道分配等技術(shù)；4通道輸入；支持兩路互相關(guān)。