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延時(shí)采集場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)(Time Delayed Collection Field Test System)是用于TDCF實(shí)驗(yàn)的裝置。為了測(cè)量樣品在納秒級(jí)的瞬態(tài)電流，配置了高性能脈沖激光器和高速脈沖發(fā)生器。該系統(tǒng)允許用戶顯示光電器件的動(dòng)態(tài)特性，并通過偏壓控制實(shí)驗(yàn)、不同的納米尺度延遲和不同的脈沖波長(zhǎng)提取電荷載流子產(chǎn)生、提取和復(fù)合的參數(shù)。
主要用于有機(jī)半導(dǎo)體測(cè)試：
Time Delayed Collection Filed Test System (TDCF)
電荷遷移率測(cè)試 (TOF)
瞬態(tài)光致發(fā)光(Tr-PL)
瞬態(tài)電致發(fā)光 (Tr-EL)
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