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美國(guó)SD PIND顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀圖片
本圖片來自廣州市科唯儀器有限公司提供的美國(guó)SD PIND顆粒碰撞噪聲檢測(cè)儀，型號(hào)為的半導(dǎo)體行業(yè)專用儀器，產(chǎn)地為美國(guó)，屬于品牌，參考價(jià)格為面議，公司還可為用戶供應(yīng)高品質(zhì)的荷蘭DELTEC 2A沖擊吸收垂直變形測(cè)定儀(人造運(yùn)動(dòng)員）、高級(jí)沖擊吸收垂直變形測(cè)定儀(3A)等產(chǎn)品。廣州市科唯儀器有限公司是中國(guó)粉體網(wǎng)的會(huì)員，合作關(guān)系長(zhǎng)達(dá)2年，工商信息已通過人工核驗(yàn)，獲得粉享通誠(chéng)信認(rèn)證，請(qǐng)放心選擇！
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廣州市科唯儀器有限公司
會(huì)員2年
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品牌性質(zhì)：生產(chǎn)商
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